SBJDCS2852D介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

SBJDCS2852D 数显介电常数及介质损耗测试仪工作频率范围是1kHz～70MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用夹具SB916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数(ε)，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。

1 特点：
◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。

2 主要技术指标：
2.1 测试信号频率范围：1kHz～70MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。
2.2 Q值测量范围：5～999四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差：±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围：0.1µH～1000mH。
2.5 电感测量误差：≤5%±0.02µH
2.6 调谐电容特性：
2.6.1可调电容范围：40pF～500 pF。
2.6.2 精确度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4残余电感值：约30nH。
2.7 Q预置功能：Q预置范围：5～999均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量：415×180×170（mm）,6.5kg。